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我室教师张叶廷及博士生田一翔赴斯图加特参加第51届摄影测量周

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2007年9月3-7日,第51届摄影测量周在德国斯图加特大学如期举行。此次大会共有来自55个国家的400多人参加,除了各个摄影测量专业相关的学校外,行业内的硬软件公司如 Intergraph、Leica、Inpho、IGI、BAE等也都有相关人员参加。会议分三个主题对两年来新产品及新技术进行了介绍和展示,分别为Digital Image Data Collection - Strength and Weakness、Geocoding of Photogrammetric Imagery及Photogrammetry Goes Public。我室教师张叶廷及博士生田一翔参加了此次盛会。

张叶廷和田一翔在摄影测量周

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